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德国FISCHER合金分析仪FISCHERSCOPE/XDAL

X 射线荧光测试仪,带有可编程的 X/Y平台和Z轴,可自动测量镀层厚度和分析材料组分。

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产品描述

功能特点:

◆配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量

◆使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构  

◆底部C型开槽的大容量测量舱

◆有弹出功能的快速、可编程XY平台

典型应用领域:

◆镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分)

◆来料检验,生产监控

◆研究和开发

◆电子工业

◆接插件和触点

◆黄金、珠宝和钟表工业

◆可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层

◆痕量元素分析

◆在有“高可靠性”要求的应用中确定铅(Pb)含量

◆硬质镀层分析