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德国FISCHER合金分析仪FISCHERSCOPE/XDV-SDD

高性能X射线荧光测试仪,配有可编程XY平台和Z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素。

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产品描述

功能特点:

◆高级型号仪器,具有常见的所有功能

◆射线激发量的灵活性最大,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变

◆通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低

◆极低的检测下限和出色的测量重复度

◆带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器

◆大容量便于操作的测量舱

典型应用领域:

◆测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中

◆痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测

◆进行高精度的黄金和贵金属分析

◆光伏产业

◆测量 NiP 镀层的厚度和成分