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产品描述
规格：
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货号 |
SV-C3200S4 |
SV-C3200H4 |
SV-C3200W4 |
SV-C3200S8 |
SV-C3200H8 |
SV-C3200W8 |
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SV-C4500S4 |
SV-C4500H4 |
SV-C4500W4 |
SV-C4500S8 |
SV-C4500H8 |
SV-C4500W8 |
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? 测量表面粗糙度时 |
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测量范围 |
X轴(驱动部） |
100mm |
200mm |
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Z1轴(检出器） |
800μm/80μm/8μm |
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直线度 |
(0.05+L/1000)μm L:驱动长度(mm） |
0.5μm/200mm |
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分辨力 |
Z1轴(检出器） |
0.01μm ( 800μm ) , 0.001μm ( 80μm ) , 0.0001μm ( 8μm |
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测力 |
0.75mN ( 机身代码末尾带 "-1" 的型号 ) |
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4mN (机身代码末尾带 "-2" 的型号） |
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测针针尖形状 |
60o, 2μmR ( 机身代码末尾带 "-1" 的型号 ) |
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90o, 5μmR ( 机身代码末尾带 "-2" 的型号 ） |
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对应尺寸 |
JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA |
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评价参数 |
Pa,Pq,Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,Pc,Ra,Rq,Rsk,Rku,Rp,Rv,Rz, |
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Rt,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,Rc,Wa,Wq,Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq, |
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Wmr(C),Wmr,Wc,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,Wx,AW,W,Wte,Ry,RyDIN, |
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RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,Ir,a,a,q,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW |
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评价轮廓 |
原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、包络残余线、 DF 轮廓 ( DIN4776 / ISO13565-1 ) 、表面粗糙度 MOTIF(包络波纹轮廓在评价 MOTIF 时显示） |
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分析图 |
负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、 Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、顶峰分布、倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析） |
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曲线补偿 |
最小平方直线、 R 面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿、多项式补偿 ( 自动或任意 2~7 次 ) 、无补偿 |
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曲线补偿 |
高斯滤波器 , 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 鲁棒样条滤波器 |
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? 轮廓测量 |
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测量范围 |
X轴(驱动部） |
100mm |
200mm |
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Z1轴(检出器） |
60mm ( 测臂水平位置 ±30mm |
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直线度 |
0.8μm/100mm |
2μm/200mm |
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精度 |
X轴(驱动部) |
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Z1轴(检出器） |
SV-C3200系列:±(1.6+|2H|/100)μm,SV-C4500系列:±(0.8+|2H|/100)μm |
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H: 水平位置上的测量高度 ( mm ) |
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分辨力 |
X轴(驱动部） |
0.05 μm |
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Z1轴(检出器） |
SV-C3200 系列 : 0.04μm, SV-C4500 系列 : 0.02μm |
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Z2轴(立柱） |
1 μm |
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测力 |
SV-C3200 系列 : 30mN ( 可调使用重量 ） |
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SV-C4500 系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN ( 根据软件转换 ） |
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测头方向 |
SV-C3200 系列 : 垂直方向 ( 向上 / 向下单独测量 ) |
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SV-C4500 系列 : 垂直方向 ( 向上 / 向根据配重调整 ） |
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? 通用时 |
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Z2轴(立柱)移动量 |
300mm |
500mm |
300mm |
500mm |
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X 轴倾斜角度 |
±45o |
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驱动速度 |
X轴 |
0 - 80mm/s 外加手动 |
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Z2轴(立柱) |
0 - 30mm/s 外加手动 |
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测量速度 |
0.02 - 5mm/s |
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注 : 虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。
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