产品中心 Product center
全部产品
产品描述
测量厚度从 1nm 到 10mm 的先进膜厚测量系统
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，F20适用于各种应用。
我们能测量什么
薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等
薄膜种类：几乎所有透明及半透明薄膜，常见如氧化物、聚合物甚至空气
薄膜状态：固态、液态和气态薄膜都可以测量
薄膜结构：单层膜、多层膜；平面、曲面
选择Filmetrics的优势
-
桌面式薄膜厚度测量的全球领导者
-
24小时电话、Email和在线支持
-
所有系统皆使用直观的标准分析软件
附加特性
-
嵌入式在线诊断方式
-
免费离线分析软件
-
精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储、重现和绘制测量结果
详细参数
| 型号 | F20-UV | F20-UVX | F20 | F20-EXR | F20-NIR | F20-XT |
| 波长范围： | 190-1100nm | 190-1700nm | 380-1050nm | 380-1700nm | 950-1700nm | 1440-1690nm |
| 光源： | 外置氘灯+钨卤素灯 | 内置钨卤素灯 | ||||
| 厚度测量范围*: | 1nm-40um | 1nm-250um | 15nm-70um | 15nm-250um | 100nm-250um | 0.2um-450um |
| 测量n&k最小厚度*: | 50nm | 50nm | 100nm | 100nm | 500nm | 2um |
| 准确度*:取较大者 | 1nm或0.2% | 1nm或0.2% | 2nm或0.2% | 2nm或0.2% | 3nm或0.4% | 5nm或0.4% |
| 精度： | 0.02 nm | 0.02 nm | 0.02 nm | 0.02 nm | 0.1 nm | 1 nm |
| 稳定性: | 0.05 nm | 0.05 nm | 0.05 nm | 0.05 nm | 0.12 nm | 1 nm |
| 光斑大小： | 标准1.5 mm,可选配至20μm | 600um | ||||
| 样品尺寸： | 直径从1mm到300mm或更大 | |||||
| 电源： | 100-240 VAC,50-60 Hz,0.3-0.1A | |||||
| 接口： | USB 2.0 | |||||
| 认证： | CE EMC和欧洲安全指令 | |||||
| 操作系统: | PC:Windows XP (SP2)- Latest Windows (64-bit) | |||||
| Mac:OS X Lion -Latest Mac OS running Parallels | ||||||
上一页
上一页
下一页