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F20 薄膜厚度测量仪

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点,F20适用于各种应用

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产品描述

测量厚度从 1nm 到 10mm 的先进膜厚测量系统

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,F20适用于各种应用。

我们能测量什么

薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等

薄膜种类:几乎所有透明及半透明薄膜,常见如氧化物、聚合物甚至空气

薄膜状态:固态、液态和气态薄膜都可以测量

薄膜结构:单层膜、多层膜;平面、曲面

选择Filmetrics的优势

  • 桌面式薄膜厚度测量的全球领导者

  • 24小时电话、Email和在线支持

  • 所有系统皆使用直观的标准分析软件

附加特性

  • 嵌入式在线诊断方式

  • 免费离线分析软件

  • 精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储、重现和绘制测量结果

详细参数

型号 F20-UV F20-UVX F20 F20-EXR F20-NIR F20-XT
波长范围: 190-1100nm 190-1700nm 380-1050nm 380-1700nm 950-1700nm 1440-1690nm
光源: 外置氘灯+钨卤素灯  内置钨卤素灯
厚度测量范围*: 1nm-40um  1nm-250um  15nm-70um  15nm-250um  100nm-250um  0.2um-450um 
测量n&k最小厚度*: 50nm 50nm 100nm 100nm 500nm 2um
准确度*:取较大者 1nm或0.2% 1nm或0.2% 2nm或0.2% 2nm或0.2% 3nm或0.4% 5nm或0.4%
精度: 0.02 nm 0.02 nm 0.02 nm 0.02 nm 0.1 nm 1 nm
稳定性: 0.05 nm 0.05 nm 0.05 nm 0.05 nm 0.12 nm 1 nm
光斑大小: 标准1.5 mm,可选配至20μm 600um
样品尺寸: 直径从1mm到300mm或更大
电源: 100-240 VAC,50-60 Hz,0.3-0.1A
接口: USB 2.0
认证: CE EMC和欧洲安全指令
操作系统: PC:Windows XP (SP2)- Latest Windows (64-bit)
Mac:OS X Lion -Latest Mac OS running Parallels

 

 

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