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F40薄膜厚度测量仪

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。 当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,F40是最好的选择。使用先前足部校正显微镜的物镜,再进行测量,即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件,F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头,可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。

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产品描述

选择Filmetrics的优势

  • 桌面式薄膜厚度测量的全球领导者

  • 24小时电话,E-mail和在线支持

  • 所有系统皆使用直观的标准分析软件

附加特性

  • 嵌入式在线诊断方式

  • 免费离线分析软件

  • 精细的历史数据功能,帮助用户有效地存储,重现与绘制测试结果

相关应用

半导体制造                              生物医学原件                              微电子                                  液晶显示器 

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• 硅或其他半导体膜层            •  植入药物涂层                          • 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜          • 导电透明膜

技术参数 

型号 F40-UV F40-UVX F40 F40-EXR F40-NIR F40-XT
2X物镜测量范围*: / / 20nm-50um  20nm-150um  100nm-150um  0.2unm-350um 
5X物镜测量范围*: / / 20nm-40um  20nm-120um  100nm-120um  0.2unm-250um 
10X物镜测量范围*4: 4nm-35um  4nm-115um  20nm-45um  20nm-115um  100nm-115um  0.2unm-140um 
15X物镜测量范围*4. 4nm-30um  4nm-100um  20nm-40um  20nm-100um  100nm-100um  0.2unm-120um 
50X物镜测量范围*: / / 20nm-2um  20nm-4um  100nm-4um  0.2unm-4um 
100X物镜测量范围*: / / 20nm-1.5um  20nm-3um  40nm-3um  0.2unm-3um 
测量n&k最小厚度*: 50nm 50nm 100nm 100nm 500nm 2um
准确度*:取较大者 1nm或0.2% 1nm或0.2% 2nm或0.2% 2nm或0.2% 3nm或0.4% 5nm或0.4%
精度*2: 0.02nm 0.02nm 0.02nm 0.02nm 0.1nm 1nm
稳定性*3: 0.05nm 0.05nm 0.05nm 0.05nm 0.12nm 1nm
波长范围: 190-1100nm 190-1700nm 400-850nm 400-1700nm 950-1700nm 1440-1690nm
光源: 内部显微镜光源
电源: 100-240 VAC,50-60 Hz,20 W
操作系统: PC:Windows XP (SP2)- Latest Windows (64-bit)
Mac:OS X Lion -Latest Mac OS running Parallels
镜头光斑尺寸        
光斑尺寸 500um孔径 250um孔径 100um孔径 50um孔径
5X物镜 100um 50um 20um 10um
10X物镜 50um 25um 10um 5um
15X物镜 33um 17um 7um 3.5um
50X物镜 10um 5um 2um 1um
100X物镜 5um 2.5um 1um 0.5um